ФИО: Филиппов Михаил Николаевич
Контакты: тел.:  (495)633-85-09 , email: MN@filippov.org.ru
Дата рождения: 1955 г., 16 марта
Занимаемая должность: профессор
Образование:высшее. Окончил Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова, физический факультет в 1978 г.
Специальность и квалификация: специальность «физика», квалификация «физик»
Ученая степень, звание: доктор физико-математических наук, профессор
Область научных интересов: аналитическая химия, методы локального анализа и анализа поверхности, рентгеноспектральный анализ, растровая электронная микроскопия, метрология, теория взаимодействия нерелятивистских электронных пучков с твердым телом.

Учебные курсы, читаемые в университете:

«Метрология» для специальности 200503 «Стандартизация и сертификация»
Первый курс метрологического цикла для данной специальности. Излагаются основные понятия теоретической, прикладной и законодательной метрологии: принципы построения системы единиц величин, эталонная база, основы теории погрешностей, принципы обеспечения единства измерений. На практических занятиях рассматриваются основные нормативные документы государственной системы обеспечения единства измерений, вырабатываются навыки обработки результатов измерений.
«Физические основы измерений» для специальности 200503 «Стандартизация и сертификация».
Курс посвящен изучению физических принципов, лежащих в основе измерений величин – причинам возникновения погрешностей, шумам измерительных устройств, принципам работы измерительных преобразователей наиболее распространенных в практике измерений величин, предельным возможностям средств измерений.
«Общая теория измерений» специальности 200503 «Стандартизация и сертификация»
Рассматриваются общие проблемы измерений – принципы построения измерительных шкал, современные методы обработки данных. Особое внимание уделено применению методов математической статистики для обработки результатов измерений, оценки погрешностей, контроля измерительных процедур.
«Метрология и стандартизация в нанотехнологиях» для Международной магистерской образовательной программы МИСиС-МФТИ «Нанодиагностика, метрология, стандартизация и сертификация продукции нанотехнологий и наноиндустрии» по направлениям: 010700 «Физика» (МИСиС, МФТИ), 140400 «Техническая физика» (МИСиС), 010600 «Прикладные математика и физика» (МФТИ), размещен на сайте МИСиС по адресу http://www.mp.msisa.ru/courses_online.html.
Специальный курс, посвященный метрологии и стандартизации в нанотехнологиях. Рассмотрены проблемы обеспечения единства измерений в нанотехнологиях, особое внимание уделено проблеме линейных измерений с помощью растровой электронной и атомно-силовой микроскопии. Рассмотрена специфика сертификации наноматериаов.

Наиболее значимые публикации:

1. BelhajM., JbaraO., FilippovMN. etal. Analysis of two methods of measurement of surface potential of insulators in SEM: electron spectroscopy and X-ray spectroscopy methods// APPLIED SURFACE SCIENCE .  V.177.   Issue: 1-2   Pp. 58-65.
2. Филиппов М.Н. Оценка теплового воздействия электронного зонда в растровой электронной микроскопии и рентгеновском микроанализе// Известия АН. Серия физическая. 1993. Т. 57. № 8. С. 165-171.
3. Филиппов М.Н., Муханова А.А., Куприянова Т.А., Лямина О.И. Использование рентгеновских аналогов определяемых элементов в рентгенофлуоресцентном анализе жидких проб //Журнал аналитической химии, 2008, т.63, №8, С.830-835.
4. Ларионов Ю.В., Митюхляев В.Б., Филиппов М.Н. Влияние загрязнения образцов в РЭМ на измерение линейных размеров//Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2008. № 9. С. 53-64.
5. FilippovM.N., NovikovYu.A., RakovA.V., ToduaP.A. SEMprobedefocusingmethodofmeasurementoflinearsizesofnanoreliefelements. Proc. ofSPIE. 2010. V. 7521. Pp. 75216-1 – 75216-9.

Основная учебная литература, автором или соавтором которой является преподаватель:

Богомолов Ю.А., Полховская Т.М., Филиппов М.Н. Основы метрологии. (учебное пособие для вузов). Рекомендовано Учебно-методическим объединением по образованию в области металлургии в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальностям металлургического и материаловедческого профиля и специальности– «Стандартизация и сертификация».М.:МИСИС. 2000. -179 с.

Участие в НИР, грантах, разработках и т.д.:

  • Руководитель гранта РФФИ № 07-03-00949-а «Разработка фундаментальных основ идентификации неорганических веществ и материалов», 2007-2009 гг.
  • Руководитель проекта «Новые методы микро- и наноанализа и нанодиагностики» по программе фундаментальных исследований Отделения химии и наук о материалах Российской Академии наук «Создание эффективных методов химического анализа и исследования структуры веществ и материалов», 2006-2008 гг.
  • Руководитель гранта РФФИ № 10-03-00961-а «Электроннозондовый микроанализ диэлектриков», 2010-2012 гг.
  •  Руководитель проекта «Электроннозондовый рентгеноспектральный анализ объектов с низкой электропроводностью» по программе фундаментальных исследований Президиума Российской Академии наук «Создание и совершенствование методов химического анализа и исследования структуры веществ и материалов», 2009-2011 гг.
  • Исполнитель в международном гранте РФФИ-МНТИ (Россия-Израиль) № 06-03-72017-МНТИ_а «Синтез и исследование свойств многофункциональных ультрадисперсных многофазных материалов на основе нанокристаллического кремния и нитрида кремния, оптические свойства которых контролируются в видимом и УФ- диапазоне длин волн», 2006-2008 гг.

Членство в российских и зарубежных академиях, других общественных организациях:

Член Научного совета РАН (НСАХ РАН) по аналитической химии, член бюро НСАХ РАН, председатель комиссии НСАХ РАН по наноаналитике.
Член Научного совета РАН по химии высокочистых веществ, руководитель рабочей группы "Диагностика материалов на основе высокочистых веществ".

Ниже приведены все научные и учебные публикации за последние 5 лет: 

Монографии и главы в монографиях

Статьи в научных сборниках и периодических научных изданиях
 
1.Куприянова Т.А., Михеев Н.Н. Муханова А.А., Петров В.И., Романов А.В., Снопова М.А., Степович М.А., Филиппов М.Н., Хохлов А.Г. О возможности использования электронно-зондовых методов для оценки локального содержания радионуклидов в природных и производственных объектах. Труды регионального конкурса научных проектов в области естественных наук. – Выпуск 8. – Калуга: Полиграф-Информ, 2005. – С.221-225.
2.Петров В.И., Романов А.В. , Степович М.А. ,Филиппов М.Н. Информационная лабораторная система для количественного рентгенофлуоресцентного анализа вещества. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2006, №9, С.93-97.
3.Муханова А.А., Филиппов М.Н., Куприянова Т.А., Лямина О.И., Печенкина Е.Н. Рентгенофлуоресцентный анализ водно-органических технологических растворов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2006. – Т.72, № 10. 18 – 22 С.
4.Романов А.В., Степович М.А., Филиппов М.Н. Разработка программного обеспечения для моделирования спектров в рентгенофлуоресцентном анализе вещества. Прикладная физика. 2007., № 3, С. 124 – 128.
5.Романов А.В., Степович М.А., Филиппов М.Н. Моделирование процессов возбуждения рентгеновской флуоресценции для рентгенофлуоресцентного анализа материалов. Перспективные материалы. 2007. №3. С. 81 -85.
6.Ю.А. Карпов, А.С. Перелыгин, Н.Е. Харьков, А.В. Кучкин, В.С.Богатырев, В.Б.Барановская, М.Н.Филиппов. Комплексный подход к идентификации материа-лов металлургического производства. Часть 1. //Методы оценки соответствия. 2007. № 10. С. 23-26.
7.Ю.А. Карпов, А.С. Перелыгин, Н.Е. Харьков, А.В. Кучкин, В.С.Богатырев, В.Б.Барановская, М.Н.Филиппов. Комплексный подход к идентификации материалов металлургического производства. Часть 2. //Методы оценки соответствия. 2007. № 11. С. 28-34.
8.Gavrilenko V.P., Filippov M.N., Novikov Yu.A., Rakov A.V., Todua P.A. Measurements of linear sizes of relief elements in the nanometer range using a scanning electron microscopy. – Proceedings of SPIE, 2007, vol.6648, p. 66480T-1–66480T-12.
9.Todua P.A., Filippov M.N., Gavrilenko V.P., Novikov Yu.A., Rakov A.V. Measurement of linear sizes of relief elements in the nanometer range using an atomic force microscopy. – Proceedings of SPIE, 2007, vol. 6648, p. 66480S-1–66480S-12.
10.   Романов А.В., Степович М.А., Филиппов М.Н. Использование модели процесса генерации спектров вторичной флуоресценции для разработки лабораторной информационной системы // Радиационная физика твердого тела: Труды XVIII международного совещания /Под ред. Г.Г.Бондаренко. – М.: Гос. научное учреждение «НИИ перспективных материалов и технологий МГИЭМ (ТУ)», 2008. – С.390-397.
11.    М.Н. Филиппов, А.А. Муханова, Т.А. Куприянова, О.И. Лямина Использование рентгеновских аналогов определяемых элементов в рентгенофлуоресцентном анализе жидких проб / Журнал аналитической химии, 2008, т.63, №8, С.830-835 .
12.   Novikov Yu.A., Filippov M.N., Lysov I.D., Rakov A.V., Sharonov V.A., Todua P.A. Derect measurement of the linewidth of relief elements of AFM in nanometer range. – Proceedings of SPIE, 2008, vol. 7025, p. 702510-1–702510-10.
13.   Novikov Yu.A., Darznek S.A., Filippov M.N., Mityukhlyaev V.B., Rakov A.V., Todua P.A. Nanorelief elements in reference measures for scanning electron microscopy. – Proceedings of SPIE, 2008, vol. 7025,
 p. 702511-1–702511-10.
14.    Дробот Н.Ф., Куприянова Т.А., Кренев В.А., Филиппов М.Н. Извлечение рения и платины из отработанных платино-рениевых катализаторов //Химическая технология. 2008. Т. 9. № 6. -С. 271-275.
15.   Ларионов Ю.В., Митюхдяев В.Б., Филиппов М.Н. Влияние загрязнения образцов в РЭМ на измерение линейных размеров. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2008. № 9. – С. 53-64.
16.    М.Н. Филиппов, Т.А. Куприянова, О.И. Лямина, Е.В. Фатюшина Новые рентгеноспектральные и масс-спектральные методы химического анализа и диагностики веществ и материалов В сб. Современные проблемы общей и неорганической химии. М.: Наука. 2009. С.402-420.
17.    А.Ю. Кузин, В.М. Лахов, Ю. А. Новиков, А.В. Раков, П.А.Тодуа, М.Н.Филиппов. Российские стандарты для измерения линейных размеров в нанотехнологиях. Наноиндустрия. 2009. № 3. – С. 2-5.
18.    GavrilenkoV. P.; Filippov M. N., Novikov Yu. A.; Rakov A. V.; Todua P. A.Test objects for automated dimensional measurements at the nanoscale level using a scanning electron microscope. Proc. of SPIE. 2009. Vol. 7378. Pp. 737813-1 – 737813-8.
19.   Гавриленко В.П., Лесновский Е.Н., Новиков Ю.А., Раков А.В., Тодуа П.А., Филиппов М.Н. Первые российские стандарты в нанотехнологии. Известия   Серия физическая. 2009. Т. 73. № 4. С. 454-462.
20.   Filippov M.N., Novikov Yu.A., Rakov A.V., Todua P.A. SEM probe defocusing method of measurement of linear sizes of nanorelief elements. Proc. of SPIE. 2010. V. 7521. Pp. 75216-1 – 75216-9.
 
Публикации в материалах научных мероприятий
 
21.    
22.   Романов А.В., Степович М.А., Филиппов М.Н. Использование математического моделирования спектров вторичного излучения для повышения эффективности анализа приповерхностных областей вещества. Проблемы теоретической и прикладной электронной оптики: Тез. докл. 7-го Всероссийского семинара (25-27 мая
23.   2005 г., г. Москва, Государственный научный центр РФ ФГУП «НПО «Орион»). – М.: ГНЦ РФ ФГУП «НПО «Орион».  С.99.
24.   Романов А.В., Степович М.А., Филиппов М.Н. О возможности повышения эф­фективности использования излучения, возникающего при взаимодействии заряженных частиц с кристаллами, для анализа приповерхностных областей вещества. Тез. докл. XXXV международной конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами (31 мая – 2 июня 2004 г., г. Москва, НИИ ядерной физики им. Д.В.Скобельцына Московского гос. ун-та им. М.В.Ломоносова). М.: МГУ, 2005. С.83.
25.   Петров В.И., Романов А.В., Степович М.А., Филиппов М.Н. Использование ма­тематического моделирования рентгеновских спектров для повышения информативности микроанализа вещества. Тез. докл. XIV Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (30 мая-3 июня 2005 г., г. Черноголовка Моск. обл., Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особо чистых материалов РАН). Черноголовка: ИПТМ РАН, 2005. С.178.
26.   Kupriyanova T.A., Filippov M.N., Lyamina O.I., Muhanova A.A. The elenent’s forms of presence determination by X-ray emission spectroscopy. Abstr. Intern. Conf. “Analytical chemistry and chemical analysis (AC&CA-05)” (Kyev, Ukraine, September 12-18, 2005).- Kyev:TarasShevchenkoNationalUniversity, 2005, P.80.
27.   Muhanova A.A., Kupriyanova T.A., Lyamina O.I., Filippov M.N. X-ray fluorescence analysis of colloidal systems. Abstr. Intern. Conf. “Analytical chemistry and chemical analysis (AC&CA-05)” (Kyev, Ukraine, September 12-18, 2005). Kyev:Taras Shevchenko National University, 2005, P.137.
28.   Lyamina O.I., Muhanova A.A., Kupriyanova T.A., Filippov M.N.,Jurina T.M. The analysis of biomedical objects by X-ray fluorescence. Abstr. Intern. Conf. “Analytical chemistry and chemical analysis (AC&CA-05)” (Kyev, Ukraine, September 12-18, 2005). Kyev:Taras Shevchenko National University, 2005, P.370.
29.   Filippov M.N., Kupriyanova T.A., Muhanova A.A. The use of intensity of coherent and non-coherent scattered radiation of the X-ray tube for the compensation of matrix effects at the analysis of solutions by X-ray fluorescence. Abstr. Intern. Conf. “Analytical chemistry and chemical analysis (AC&CA-05)” (Kyev, Ukraine, September 12-18, 2005). Kyev:Taras Shevchenko National University, 2005, P.444.
30.   Romanov A.V., Stepovich M.A., Filippov M.N. Increasing of efficiency roentgenfluorescent analysis at a stage of design of experiments. Abstr. Intern. Conf. “Analytical chemistry and chemical analysis (AC&CA-05)” (Kyev, Ukraine, September 12-18, 2005). Kyev:Taras Shevchenko National University, 2005, P.458.
31.   Куприянова Т.А., Лямина О.И., Муханова А.А., Филиппов М.Н., Юрина Т.М. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ в клинической медицине // V всероссийская конференция по рентгеноспектральному анализу: Тез. докл. (30 мая – 2 июня 2006 г., Иркутск) – Иркутск, 2006. – С. 5.
32.   Куприянова Т.А., Лямина О.И., Муханова А.А., Филиппов М.Н. Рентгенофлуо-ресцентные спектры растворов // V всероссийская конференция по рентгеноспектральному анализу: Тез. докл. (30 мая – 2 июня 2006 г., Иркутск) – Иркутск, 2006. – С. 53.
33.   Муханова А.А., Филиппов М.Н., Куприянова Т.А., Лямина О.И. Особенности рассеяния рентгеновского излучения в диапазонах длин волн 0,04 – 0,09 нм и 0,3 – 0,8 нм // V всероссийская конференция по рентгеноспектральному анализу: Тез. докл. (30 мая – 2 июня 2006 г., Иркутск) – Иркутск, 2006. – С. 14.
34.   Filippov M.N., Kupriyanova T.A., Lyamina O.I., Muhanova A.A. The X-ray emission spectroscopy speciation in solids // International congress on Analytical sciences / Book of abstracts Moscow – Russia, June 25 – 30, 2006 – P 686.
35.   Lyamina O.I., Muhanova A.A., Kupriyanova T.A., Filippov M.N., Jurina T.M. X-ray fluorescence analysis in clinical medicine // International congress on Analytical sciences / Book of abstracts Moscow – Russia, June 25 – 30, 2006 – P 696.
36.   Romanov A.V., Stepovich M.A., Filippov M.N.. About possibility of laboratory intelligence using for efficiency raising of solids surface analysis // International congress on Analytical sciences / Book of abstracts Moscow – Russia, June 25 – 30, 2006 – P 694.
37.   Ю.Н.Пархоменко, М.Н.Филиппов, Ю.А.Карпов «Высокочистые вещества и наноаналитика», XIII конференция «Высокочистые вещества и материалы. Получение, анализ, применение.», 2007 г, Н.Новгород, С.119-120.
38.    Филиппов. М.Н., Куприянова Т.А., Лямина О.И., Муханова А.А., Романов А.В. «Новые возможности рентгеноспектрального анализа». XVIII Менделеевский съезд по общей и прикладной химии, 23-28 сентября 2007 г., Москва, С. 1656
39.   Карпов Ю.А., Барановская В.Б., Пархоменко Ю.Н., Филиппов М.Н. «Проблемы аналитического контроля производства редких и драгоценных металлов». XVIII Менделеевский съезд по общей и прикладной химии, 23-28 сентября 2007 г., Москва, С. 1641
40.   Филиппов М.Н., Куприянова Т. А., Лямина О.И., Филиппова Т.В. «Дифракция первичного излучения в рентгенофлуоресцентном анализе» II Всероссийская конференция по аналитической химии «Аналитика России», 2007 г, Краснодар, С.176
41.   Лямина О.И., Куприянова Т. А., Филиппов М.Н., Карпенко О.М., Поворинская О.А., Юрина Т.М. «Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ как метод контроля в клинической медицине» II Всероссийская конференция по аналитической химии «Аналитика России», 2007 г, Краснодар, С.447.
42.    Филиппов М.Н. Наноаналитика и наноанализ. Тезисы докл. Всероссийск. конф. "Центры коллективного пользования (ЦКП) и испытательные лаборатории - в исследованиях материалов: диагностика, стандартизация, сертификация и метрология". Москва. 12-13 декабря 2007 г. ГИРЕДМЕТ. С. 12-13.
43.   Yuri A.Karpov, A.S.Perelygin, N.E.Khar’kov, V.A.Kutchkin, V.S.Bogatyrev, V.B.Baranovskaya, M.N. Filippov. Identification in the analytical control of strategically important raw wares (SIRW)// Book of Proceedings of IV Metrochem, Brazil, 2008, P.519-528.
44.    Романов А.В., Степович М.А., Филиппов М.Н. Построение количественной модели формирования флуоресцентного сигнала для разработки лабораторной информационной системы в количественном рентгенофлуоресцентном анализе /Материалы VI Всероссийской конференции по рентгеноспектральному анализу с международным участием, 2008, Краснодар, 5-10 октября, С. 106.
45.   Филиппов М.Н., Куприянова Т.А., Лямина О.И. Изучение формы нахождения химических элементов по эмиссионному рентгеновскому спектру /Материалы VI Всероссийской конференции по рентгеноспектральному анализу с международным участием, 2008, Краснодар, 5-10 октября, С. 121.
46.    Куприянова Т.А., Филиппов М.Н., Дробот Н.Ф., Фомичев С.В., Кренев В.А. Локальные рентгеноспектральные исследования базальтовых материалов /Материалы VI Всероссийской конференции по рентгеноспектральному анализу с международным участием, 2008, Краснодар, 5-10 октября, С. 159.
47.   Филиппов М.Н. Современный рентгеноспектральный анализ. Состояние и перспективы развития/ Материалы III Всероссийской конференции по аналитической химии «Аналитика России», 2009 г, Краснодар, 27 сентября-3 октября, С.270. (Пленарный).
48.    Филиппов М.Н., Куприянова Т.А., Лямина О.И., Муханова А.А. Влияние локального электрического заряда на результаты электронно-зондового анализа диэлектриков/ Материалы III Всероссийской конференции по аналитической химии «Аналитика России», 2009 г, Краснодар, 27 сентября-3 октября, С.45.
49.    Филиппов М.Н., Куприянова Т.А., Лямина О.И., Муханова А.А. Сдвиг высокоэнергетической границы тормозного рентгеновского спектра при электронно-зондовом анализе диэлектриков и потенциал поверхности /Материалы III Всероссийской конференции по аналитической химии «Аналитика России», 2009 г, Краснодар, 27 сентября-3 октября, С.46.
50.   Куприянова Т. А, Лямина О.И., Филиппов М.Н. Интерпретация регистрируемых спектров в рентгенофлуоресцентном анализе/ Материалы III Всероссийской конференции по аналитической химии «Аналитика России», 2009 г, Краснодар, 27 сентября-3 октября, С.33.
51.   Романов А.В., Степович М.А., Филиппов М.Н., Цапенкова О.С. Разработка лабораторной информационной системы для количественного рентгенофлуоресцентного анализа на основе моделей генерации флуоресцентного сигнала/ Материалы III Всероссийской конференции по аналитической химии «Аналитика России», 2009 г, Краснодар, 27 сентября-3 октября, С.41.
52.    Ю.В. Ларионов, В.Б. Митюхляев, П.А. Тодуа, М.Н. Филиппов Искажение шаговой структуры вследствие контаминации в РЭМ с безмасляной откачкой / Материалы XVI Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел РЭМ-2009. 1–3 июня 2009 г., Черноголовка, Московская область, С.98.
53.   Filippov M.N., Novikov Yu.A., Rakov A.V., Todua P.A. SEM probe defocusing method of measurement of linear sizes of nanorelief elements. Book of Abstr. of Intern. Conf. “Micro- and nanoelectronics - 2009”.October 5-9 2009. Moscow-Zvenigorod. P. O3-17.
54.   Filippov M.N., Novikov Yu.A., Rakov A.V., Todua P.A. Relief structure images with trapezoid profile and big inclination angle of sile walls in back scattered electrons. Book of Abstr. of Intern. Conf. “Micro- and nanoelectronics - 2009”. October 5-9 2009. Moscow-Zvenigorod. P. O3-18.
55.   М.Н.Филиппов. Современные приборы для рентгеноспектрального анализа. Аналитическая химия – новые методы и возможности. Съезд аналитиков России. Москва, 26-30 апреля. Тезисы докладов. С. 20.
 
Научно-популярные статьи.
 
1. Филиппов М.Н. Михаил Арнольдович Блохин (1908-2008). VI Всероссийская конференция по рентгеноспектральному анализу с международным участием (к 100-летию со дня рождения М.А.Блохина). Материалы конференции. Краснодар 5-10 октября
2008 г. С. 3-8 (ISBN 978-5-904094-01-0).
2. Филиппов М.Н. Игорь Борисович Боровский (1909-2009). К 100-летию со дня рождения. Физика и химия обработки материалов. 2010. № 2. С. 92-93.

Сведения о повышении квалификации за последние 5 лет:

В 2007 году прошел обучение в Академии стандартизации, метрологии и сертификации по программе «Стандартизация и экспертиза стандартов (специальное обучение для заявителей и экспертов по стандартизации)», удостоверение рег. № 035810 от 26 января 2007 г. Является экспертом по стандартизации Системы добровольной сертификации экспертов по стандартизации, сертификат СЭN000124, зарегистрирован в Реестре экспертов по стандартизации протокол № 8 26 января 2007 г

Темы НИР и дипломных, квалификационных выпускных работ бакалавров и диссертаций магистров за последние 3 года:

1 Рентгенофлуоресцентный экспресс-анализатор для идентификациисплавов.
2 Разработка комплекта документов для проведения испытаний с целью утверждения типа средства измерения для микроанализатора.