Оборудование

 

Просвечивающий электронный микроскоп JEM 1400 в аналитической конфигурации



Просвечивающий электронный микроскоп JEM 1400 имеет разрешение по точкам 3.8 Å и по линиям 2 Å, максимальное ускоряющее напряжение 120 кВ и прямое увеличение составляет до 1,2 млн. раз. В качестве источника электронов используется катод из W или гексаборида лантана (LaB6). Минимальный диаметр электронного пучка составляет 50 нм, что позволяет в микролучевом режиме получить дифракционную картину с области примерно такого же диаметра. Гониометрический столик позволяет наклонять образец по оси X ±25º.
Данный микроскоп является мощным прибором для исследователей в области материаловедения, металловедения и технологии полупроводниковых материалов и приборов. За счет системы высокой контрастности микроскоп является прекрасным инструментом изучения объектов исследования в биологии.

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6610LV

Компактный многоцелевой РЭМ с предельной простотой управления и высоким качеством оптики.Микроскоп обладает полностью автоматизированной электронной пушкой с W или LaB6 катодами. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным.
 
Особенности РЭМ 6610LV:
  • Возможность изучения различных объектов в различных типах сигналов (отраженные электроны, вторичные электроны) с увеличением от х5 до х100 000 и пространственным разрешением до 3 нм ;
  • Работа при ускоряющих напряжениях от 0,3кВ до 30 кВ;
  • Анализ непроводящих объектов в режиме низкого вакуума;
  • Размеры исследуемых образцов до 75 мм в диаметре и до 80 мм высотой, столик – моторизованный эвцентрический;
Микроскоп укомплектован энергодисперсионной приставкой-микроанализатором INCA SDD X-MAX производства Oxford Instruments и программным обеспечением INCA Energy для проведения микроанализа, построения профилей состава, карт распределения элементов.
Возможности растрового электронного микроскопа:
  • Исследование мезо-, микро- и наноструктур различных материалов;
  • Исследование морфологии микро- и нанообъектов;
  • Исследование материалов, подверженных коррозии;
  • Исследование порошковых и пористых материалов;
  • Фрактографические исследования деталей и конструкций;
  • Качественный и количественный анализ в точке, вдоль линии, картирование (от B до U).
Для наблюдения биологических объектов и проведения рентгеноспектрального анализа в режиме высокого вакуума УНЦ МШМ располагает установками для нанесения тонких углеродных и металлических (Pt) покрытий.


Атомно-силовой микроскоп AIST-NT Smart SPM (c) 1000

 
Полностью автоматизированный СЗМ
   - позволяет производить автоматическую настройку прибора перед началом измерений;
Высокоскоростной 100 мкм сканер
   - (резонансные частоты сканера больше, чем 7 кГц по XY & 15 кГц по Z), емкостные датчики, обеспечивающие высокую линейность и точное позиционирование;
Регистрирующая система с ИК лазером
  - с длиной волны 1300 нм позволяет измерять широкий диапазон образцов с высоким разрешением, включая образцы чувствительные к видимому свету. С таким лазером пользователь может проводить измерения флуоресценции или рамановского излучения одновременно с АСМ сканированием без перекрестных помех;
Улучшенный контроль обратной связи
   - с активным устранением отставания по фазе по XY, перескоков и ≪звона≫ сканера при быстром сканировании без динамического искажения изображения;
Режим True Non-contact - и специальная процедура для безопасного подвода зонда к образцу;
Цифровой модульный контроллер - с быстрым DSP, USB интерфейсом и возможностью расширения функциональность


Установка для электролитического травления/полировки Struers TenuPol-5 с циркуляционным криостатом

Автоматическая установка для электролитического утонения образцов для электронной микроскопии. Со встроенной функцией сканирования параметров процесса и возможностью установки дополнительных параметров для новых материалов. Образцы диаметром 2,3 и 3 мм полируются с двух сторон одновременно с целью получения тонкой фольги с центральным отверстием на столько маленьким на сколько это возможно. Процесс утонения образцов контролируется с помощью фотоэлемента и автоматически останавливается, как только в образце появляется малейшее отверстие.

Установка для электролитического травления/полировки Struers LectroPol-5 c циркуляционным криостатом

Автоматическая установка для электролитического травления и полирования металлографических образцов. Состоит из контрольного блока и внешнего устройства для травления. Функция сканирования позволяет легко определять и контролировать все параметры процесса. Микропроцессорный контроль со встроенной базой данных на 30 различных методов (10 стандартных и 20 пользовательских методов). С установкой LectroPol-5 Вы сократите время полирования образцов и достигните максимальной воспроизводимости результатов.

Установка для ионного травления образцов JEOL Ion Slicer IS 9100

 

Система Ion Slicer предназначена для подготовки образцов к исследованиям в растровых и просвечивающих электронных микроскопах путем ионного утонения. Отличительной особенностью данного прибора является то, что он не требует приготовления диска, утоненного в центре. Предварительная пробоподготовка для Ion Slicer заключается лишь в изготовлении параллелепипеда размерами 2.8мм х 0.5мм х 0.1мм, который затем закрывается с тонкого широкого конца специальной защитной лентой и утоняется пучком ионов аргона. Энергия пучка не превышает 8 кВ, а угол падения – 6˚ по отношению к наибольшей грани образца. Это позволяет минимизировать радиационные повреждения и тем самым сохранить исходные структуру и фазовый состав образца, а после этого изучить их методами электронной микроскопии. Процесс утонения контролируется по изображению, получаемому с CCD-камеры и управляется при помощи персонального компьютера. Ion Slicer крайне эффективен для обработки мягких материалов, неоднородных твердых растворов, минералов, композитов, керамик, пористых структур и т.п.