Оборудование лаборатории

Спектрофотометр UV-VIS-NIR Cary-5000 фирмы Varian, Австралия

Техническое описание: двулучевой спектрофотометр, управляемый с ПК. Диапазон считывания – до 9,9999 А (200%Т). Источники: вольфрам-галогеновый, дейтериевый и калибровочная ртутная лампа. Детекторы - ФЭУ R928 и электротермостатированный PbS. Монохроматор -двойной некомпланарный типа Литтроу с фокусным расстояние не менее 2х400 мм. Ширина спектральной щели - переменная от 0,01-5 нм с шагом 0,01нм. Рабочий диапазон 175-3300 нм

Возможности – спектры пропускания, спектры зеркального отражения, спектры диффузного отражения, показатель ослабления.

Микроскоп Carl Zeiss Axio Imager M1m

Техническое описание:общее увеличение от 50 до 1000х, автофокусировка, револьверное устройство на 7 объективов, диффузионный диск для отраженного света, бинокулярный фототубус 30o/23 (30vis:70doc), объективы EC “Epiplan-Neofluar” 5x, 10x, 20x, 50x ,100x, конденсор Achromatic-aplanatic 0.9H Pol, окуляр W-PL 10x/23 Br.foc. Видео комплект анализа изображений.

Возможности: отраженное и проходящее освещение, поляризационное освещение, темное поле

Гониометр-спектрометр ГС-2

Техническое описание: рабочий диапазон длин волн 400¸680 нм, диапазон измерений плоских углов 0 ¸ 360о, правильность при измерении любого углового интервала ± 2², точность измерений показателя преломления ± 5· 10-5
Измеряемые параметры – показатель преломления на 22 длинах волн

Интерферометр типа Физо ИФ-77

Техническое описание: источник излучения - гелий-неоновый лазер l = 0,63 мкм, диаметр измеряемых пластин до 120 мм, правильность интерферометра 0,05 инт. полос.
Измеряемые параметры – отклонение от плоскостности бесконтактным методом от 0,03 до десятков микрометров.

Микротвердомер Aaffri DM 8 B AUTO, Италия

Техническое описание: автоматический выбор инденторов, автоматический пересчет Виккерс, Роквелл и Бринелль. Пошаговый моторизованный столик 100х100. Полностью моторизованная нагрузка со скоростью 50 μ/sec.Нагрузки (гр.): 1, 3, 5, 10, 25, 50, 100, 200, 300, 500, 1000, 2000. Время выдержки: 5-99 сек. Общее увеличение: 100х, 400х. Время выдержки: 5 - 99 сек. Измерительная шкала 250 μ/мм.
Минимальное деление 0.1 μ/мм

А так же:

Испытательный комплекс ИК ЭОЭ-1 для измерения параметров электрооптических элементов.

Измеряемые параметры – коэффициенты эллиптичности и контрастности пучка лазерного излучения, прошедшего через электрооптический элемент; статическое полуволновое напряжение 

Профилометр МОД-296

Измеряемые параметры – шероховатость поверхности Ra в диапазоне 0,02-10 мкм 
 

Микроскоп инструментальный ИМЦ 100х50 А

Измеряемые параметры – геометрические параметры заготовок с показателем правильности не превышающей 6 мкм. 

Цифровой электрометр, модель 6517А, компании Keithley, США

Измеряемые параметры - Измерение сопротивления от 10 Ом до 2х1014 Ом с точностью до 51/2 значащих цифр, напряжения от 10 мкВ до 200 В, токовых сигналов от 10-16 А до 20 мА, зарядов от 10-14 Кл до 20 мкКл.

Заказчиками испытательных работ являются:

ОАО «Фомос-Материалс», ИОФ РАН, ИК РАН, НЦЛМТ ИОФ РАН, Институт неорганической химии СО РАН, ФА Ростехрегулирования и метрологии, ОАО «Гиредмет» ГНЦ РФ, ФГУ ТИСНУМ, подразделения МИСиС.