Дремов Виктор Иванович
Профессор кафедры
"Безопасность и экология горного производства", д.т.н.
Аудитория:
Г-431
Тел.:
8 (499) 230-27-30

Общая информация:

Занимаемая должность: профессор по кафедре «Безопасность и экология горного производства»

 

Область научных интересов:

Проветривание угольных и сланцевых шахт.

Проветривание при подземном строительстве.

Аэрогазопылединамика.

 

Учебные курсы, читаемые в университете:

Аэрология горных предприятий;

Безопасность ведения горных работ и горноспасательное дело.


Публикации (за последние 5 лет):

 

В журналах индексируемых в базе данных РИНЦ

Дремов В.И., Мазеин С.В., Прудников А.Д., Акутин Д.В. Мероприятия промышленной безопасности при проектировании строительства московского метрополитена / МЕТРО  И ТОННЕЛИ. 2016, №5, С. 31-38

 

Учебно-методические работы

Безопасность ведения горных работ и горноспасательное дело. Каледина Н.О., Скопинцева О.В., Косарев В.Д., Кобылкин С.С., Трофимов Г.И., Филиппов В.Л. Учебное пособие  по проведению практических занятий и самостоятельной работе студентов Московский государственный горный университет. – Москва, 2013 г., - С.99

 

 

Темы дипломных, квалификационных выпускных работ специалистов за последние 3 года:

Коржанков Денис Русланович тема диплома «Разработка мероприятий системы обеспечения промышленной безопасности для ОАО «Ковдорский ГОК» Рудник «Железный» спец. часть «Расчет устойчивости бортов карьера» (2018)

 

Объявления для студентов:

Если Вы хотите получить высокопрофессиональное современное образование - Вас ждут на кафедре Аэрология, технологическая безопасность и горноспасательное дело».

По научным направлениям приглашаются студенты, горные инженеры любых организаций для совместной работы.


Зондовые микроскопы используются для исследования поверхностей и приповерхностных слоев металлов, полупроводников, диэлектриков, органических материалов и биологических объектов в разных средах. Существующие в настоящее время методики позволяют определять ряд параметров:
  • рельеф поверхности образца с атомным разрешением в режимах сканирующей туннельной микроскопии и контактной и бесконтактной атомно-силовой микроскопии;
  • распределение локальной работы выхода электронов из проводящего образца в области сканирования;
  • распределение плотности электронных состояний с высоким пространственным и энергетическим разрешением в режиме туннельной спектроскопии;
  • идентификация адсорбированных атомов на поверхности;
  • механические характеристики поверхности и приповерхностных слоев, такие, как модуль упругости, коэффициент трения между поверхностью и острием при его латеральном перемещении, микротвердость;
  • свойства адсорбированных слоев, в том числе толщину, адгезию, вязкость, поляризуемость и т.д.;
  • структуру биологических молекул, вирусов, бактерий, влияние на них различных внешних воздействий.

Технические характеристики установки:

  • Разрешение:
    • в плоскости XY не более 0,15 нм;
    • по оси Z не более 0,1 нм
  • Неплоскостность сканирования в плоскости XY не более 200 нм
  • Дрейф:
    • в плоскости XY не более 2 А/c;
    • по оси Z не более 1,5 А/с.
  • Максимальное число точек сканирования по X и Y 4000x4000.
  • Мин. шаг сканирования (ЦАП) 0.0004 нм; 0.0011 нм; 0.006 нм.
  • XY позиционирование образца 5x5 мм.
  • Разрешение позиционирования 5 мкм.