Тел.: (495)638-4546  
E-mail:  olga.trpva@rambler.ru
Ауд. К-407
Дата рождения 26 августа 1941 г.
Занимаемая должность: Зам. Директора ЦКП, с.н.с
Образование: высшее,  Московский институт стали и сплавов
Год окончания: 1963 г.
Специальность и квалификация: Инженер-физик «Физика полупроводников и диэлектриков»
Ученая степень, звание: кандидат физико-математических наук, с.н.с

1. Область научных интересов.

Спектроскопические методы исследования, физика поверхности полупроводников, физическое материаловедение

2. Публикации (3-5) (наиболее значимые, на усмотрение преподавателя; ссылки в соответствии с ГОСТ).

  1. Выговская Е.А., Пархоменко Ю.Н., Подгорный Д.А., Бешенков В.Г., Торопова О.В. Диагностика фазового состава скрытых слоев дисилицида кобальта в кремнии по оже-спектрам SiLVV при ионном профилировании. // Изв. Вузов. Материалы электронной техники.– 2006. – №3 .- 55-58.
  2. Выговская Е.А., Пархоменко Ю.Н., Борун А.Ф., Торопова О.В., Рязанцев В.В., Полякова Е.Г. Напряжения в решетке Si вблизи преципитатов β-FeSi2 //Изв. Вузов. Материалы электронной техники.– 2006. – №2 .- с.39-45.
  3. В.Г. Бешенков, Ю.Н. Пархоменко, Д.А. Подгорный, Е.А. Выговская, О.В. Торопова «Количественный элементный и фазовый анализ по оже-спектрам: матричные факторы» // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2008.- № 11.- с.69-72 .
  4. А.Ф. Борун, Е.А. Выговская, М.Д. Малинкович, Ю.Н. Пархоменко, О.В. Торопова. Два источника зинеровских электронов в предпробойной вольт-амперной характеристике диэлектрической пленки на основе полифинилметилсилоксан // Изв. высших учебных заведений. Материалы электронной техники .- № 4 .-2008 .-с. 40-44.
  5. Ю.М. Белов, В.Т. Бублик, А.И. Воронин, Е.А. Выговская, В.Ф. Понаморев, Н.Ю. Табачкова, О.В. Торопова «Определение глубины нарушенных слоев крупнозернистых слитков термоэлектрических материалов по характеру изменения текстуры поверхностных слоев» // Изв. высших учебных заведений. Материалы электронной техники .- № 2 .-2009 .-с. 40-42.
  6. К.Д. Щербачев, М.И. Воронова, В.Т. Бублик, А.Н. Дерябин, А.И. Хохлов, Е.А. Выговская, О.В. Торопова «Контроль качества обработки поверхности подложек из лейкосапфира с использование рентгеновской дифракции высокого разрешения» // Изв. высших учебных заведений. Материалы электронной техники.- №2 .- 2009 .- с.43-47

3. Участие в НИР, грантах, разработках и т.д. (тема, год).

  1. Научно-методическое, организационное и материально-техническое обеспечение развития центра коллективного пользования «Материаловедение и металлургия» научным оборудованием для проведения научно-исследовательских, опытно-конструкторских и технологических работ по приоритетным направлениям Программы 2005-2006 г.г.)
  2. НИР «Разработка методик анализа состава, структуры и свойств нанопористых каталитических мембранных материалов» (2005 г.)
  3. НИР «Изучение свойств наномикрокристаллических порошков металлов» (2005-2006 г.г.)
  4. НИР «Материаловедческие исследования, направленные на изучение структуры и свойств материалов и наноструктур»(2007-2008 г.г.)
  5. НИР «Исследования (состав-структура-свойства) термоэлектрических материалов и термоэлементов с целью оптимизации их термоэлектрических параметров» (2007-2009 г.г.)
  6. НИР «Исследования структуры, состава и свойств подложек лейкосапфира, карбида кремния, нитрида галлия и комбинированных подложек с эпитаксиальным слоем нитрида галлия».(2007-2009 г.г.)
  7. НИР «Разработка составной части метрологического комплекса для измерения локального химического состава и структурных параметров нанообъектов с помощью методов растровой электронной микроскопии, специальных методов спектроскопии и дифракции рентгеновских лучей» (2008 – 2010 г.г.)
  8. НИР «Исследования неорганических наноматериалов аналитическими методами» (2008-2010 г.г.)
  9. НИР «Обеспечение центром коллективного пользования научным оборудованием комплексных исследований и разработок в области материаловедения и металлургии» (2009-2010 г.г.).

4. Награды, почетные звания, другие достижения.

  • Медаль и диплом выставок «Современная образовательная среда», ВВЦ, 2001-2002 г.
  • Благодарность Министерства образования РФ.
  • Медаль «За безупречную службу МИСиС».
  • Медаль «В память 850-летия Москвы».

5. Отдельно приводятся все научные и учебные публикации за последние 5 лет.

  1. Выговская Е.А., Пархоменко Ю.Н., Подгорный Д.А., Бешенков В.Г., Торопова О.В. Диагностика фазового состава скрытых слоев дисилицида кобальта в кремнии по оже-спектрам SiLVV при ионном профилировании. // Изв. Вузов. Материалы электронной техники.– 2006. – №3 .- 55-58.
  2. Выговская Е.А., Пархоменко Ю.Н., Борун А.Ф., Торопова О.В., Рязанцев В.В., Полякова Е.Г. Напряжения в решетке Si вблизи преципитатов β-FeSi2 //Изв. Вузов. Материалы электронной техники.– 2006. – №2 .- с.39-45.
  3. В.Г. Бешенков, Ю.Н. Пархоменко, Д.А. Подгорный, Е.А. Выговская, О.В. Торопова «Количественный элементный и фазовый анализ по оже-спектрам: матричные факторы» // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2008.- № 11.- с.69-72 .
  4. А.Ф. Борун, Е.А. Выговская, М.Д. Малинкович, Ю.Н. Пархоменко, О.В. Торопова. Два источника зинеровских электронов в предпробойной вольт-амперной характеристике диэлектрической пленки на основе полифинилметилсилоксан // Изв. высших учебных заведений. Материалы электронной техники .- № 4 .-2008 .-с. 40-44.
  5. Ю.М. Белов, В.Т. Бублик, А.И. Воронин, Е.А. Выговская, В.Ф. Понаморев, Н.Ю. Табачкова, О.В. Торопова «Определение глубины нарушенных слоев крупнозернистых слитков термоэлектрических материалов по характеру изменения текстуры поверхностных слоев» // Изв. высших учебных заведений. Материалы электронной техники .- № 2 .-2009 .-с. 40-42.
  6. К.Д. Щербачев, М.И. Воронова, В.Т. Бублик, А.Н. Дерябин, А.И. Хохлов, Е.А. Выговская, О.В. Торопова «Контроль качества обработки поверхности подложек из лейкосапфира с использование рентгеновской дифракции высокого разрешения» // Изв. высших учебных заведений. Материалы электронной техники.- №2 .- 2009 .- с.43-47
  7. Ю.М. Белов, В.Т. Бублик, А.И. Воронин, Е.А. Выговская, В.Ф. Понаморев, Н.Ю. Табачкова, О.В. Торопова «Использование анализа текстуры в крупнозернистых пластинах халькогенидов Bi и Sb для определения фронта кристаллизации и глубины нарушенных поверхностных слоев» // Заводская лаборатория. Диагностика материалов .- 2009 в печати.