Tехнические характеристики:

  • Диапазон измеряемых элементов: от бериллия (Z=4) до урана (Z=92)
  • Диапазон концентраций: от 1 ppm до 100 %
  • Локальность анализа: высокочувствительная апертурная система (0.5, 3, 10, 20, и 30 мм)
  • Картирование элементов с шагом 250 мкм
  • Максимальные размеры образцов: высота -38мм, диаметр – 51мм
Рентгенофлуоресцентный (XRF) спектрометр предназначен для проведения быстрого и точного количественного анализа химического состава твердых, порошковых и жидких проводящих и непроводящих проб. Приборами данной серии может решаться широкий диапазон задач: от мониторинга нескольких элементов в маслах, полимерах, цементе или горных породах до полного анализа стекла, металлов, руды, огнеупоров и геологических материалов. Преимуществом XRF метода перед другими методами элементного анализа являются отсутствие необходимости разрушения образца, высокая скорость анализа, более простая система подготовки проб, высокие стабильность работы и сходимость результатов, широкий динамический диапазон определяемых содержаний (от ppm до 100 %). Модульность, надежность, скорость анализа и последние микропроцессорные технологии обеспечивают простоту в эксплуатации, максимальную результативность и быструю окупаемость.