Основным направлением научно-исследовательской работы кафедры является разработка теоретических основ процессов роста кристаллов тонких слоев элементарных полупроводников,  полупроводниковых соединений с целью получения материалов для микро- и наноэлектроники, магнитоэлектроники и оптоэлектроники. Результаты научных исследования сопровождаются разработкой математических моделей процессов.

Более десяти лет на кафедре велись работы по новому перспективному направлению технологии материалов: создание  непланарных профильных монокристаллических  материалов в полупроводниковых приборах. Эти работы отмечены рядом дипломов и наград престижных международных выставок. Но для производства подобных приборов необходимо многое изменить в методиках и оборудовании для выращивания и обработки профильных монокристаллов.

Другим направлением технологических исследования является создание углеродполимерных структур с широким диапазоном свойств. В зависимости от режимов обработки углерод-полимерные пленки могут быть и полупроводниками и проводниками. В такие пленки можно ввести кластеры атомов металлов, размер  которых составляет десятки и единицы нанометров, что придает получившимся пленкам дополнительные магнитные, фрикционные, каталитические и др. свойства, либо усиливает уже имеющиеся. По совокупности выполненных работ защищена докторская (доц. Козлов В.В.) и несколько кандидатских  диссертаций. Соответствующие направления работы выполняет профессор Кожитов Л.В.

В группе магнитоэлектроники развернуты работы по созданию микромагнитных сенсоров для геофизики и медицины, разработке радиопоглощающих композитов с использованием наноразмерных структур. Разработками руководят профессор Костишин В.Г и профессор Панина Л.В., эти направления  поддержаны грантами РФ ФИ.

Награды и достижения кафедры


Уникальное научное оборудование кафедры

  • Установка LaserPro Mercury
  • Установка ИК-нагрева QHC-P610CP  Ulvac RIKO, Япония
  • Установка роста углеродных нанотрубок CN-CVD
  • Автоматизированная установка термоактивационной токовой спектроскопии для исследования электрически активных дефектов в диэлектрических оксидных пленках
  • Вибромагнетометр ВМ
  • Дериватограф Q-1500D
  • № п/п

    Наименование оборудования (в соответствии с фирменным наименованием)

    Размещение (№ корпуса, аудитории)

    Вид оборудования (технологическое / аналитическое)

    Для каких целей используется

    Основные характеристики оборудования

    Страна-производитель

    Источник приобретения

    Дата приобретения

    Дата ввода в эксплуатацию

    Срок эксплуатации, лет

    Уникальное оборудование (да / нет)

    Балансовая стоимость

    ФИО ответственного, его контактная информация

    Осуществляется поверка / калибровка оборудования? Периодичность?

    1

    2

    3

    4

    5

    6

    7

    8

    9

    10

    11

    12

    13

    14

    15

     

    Установка для выращивания углеродных нанотрубок CCVD-2P

    К-428

    Технологическое

    Рост ориентированных углеродных нанотрубок из газовой фазы

    Мощность СВЧ-генератора 2 кВт, Частота СВЧ-2,4 ГГц, диаметр подложки – до 10 см, рабочие газы – H2, CH4, контроль температуры отделенной от плазмы подложки с применением малоинерционного галогенового ИК-нагревателя в интервале 250-700 С

    Ulvac-Rico, Япония

     

    2011

    05.12.2011

    7

    да

    -

    Кожитов Лев Васильевич, Муратов Дмитрий Геннадьевич

    84992368133

     

    нет

     

    Печь ИК-нагрева MILA-5000

    К-428

    Технологическое

    Разработка методик и технологии синтеза наночастиц металлов в составе металлоуглеродных нанокомпозитов с заданными свойствами путем термолиза

    Малый объем рабочей камеры, настольное исполнение, работа в вакууме и инертной атмосфере, мощность установки - 4 КВт, специальное крепление для высокотемпературной видеокамеры (в данной комплектации камера отсутствует), Установка позволяет осуществлять нагрев до 1000 С со скоростью до 50 °/сек, нагрев осуществляется с помощью галогеновых ламп, работающих в ИК-диапазоне длин волн.

    Ulvac-Rico, Япония

     

    07.2013

    27.08.2013

    5

    нет

    -

    Кожитов Лев Васильевич, Муратов Дмитрий Геннадьевич

    84992368133

    нет

     

    Центрифуга лабораторная универсальная ОПН-16 с ротором 6x50 мл, Labtex.

     

    К-428А

    Технологическое

    Для центрифугирования жидкости.

     

    Ротор 6x50 мл. Макс. Скорость 11000 об/мин. Макс. ОЦУ 12000 g.

    Китай

     

     

    30.03.2015

     

    01.04.2015

     

    5

    нет

    79832,90 руб.

     

    Тимофеев Андрей Владимирович, 84959550160

    Калибровка/поверка не осуществляются

     

     

    Верхнеприводная механическая мешалка JJ-5.

     

     

    Верхнеприводная механическая мешалка предназначена для перемешивания жидкости.

     

    Питание: 220 Вт 50Гц. Мощность: 60 Вт. Диапазон скорости: 0 – 3000 об/мин, пошаговая регулировка скорости.

     

    Китай

     

     

    30.03.2015

     

    01.04.2015

     

    5

    нет

    12869,05 руб.

     

    Тимофеев Андрей Владимирович, 84959550160

    Калибровка/поверка не осуществляются

     

     

    Электрометр KEITHLY 6514

     

     

    Предназначен для измерения малых токов с высоким разрешением, напряжений от источников с высоким импедансом, зарядов и высоких сопротивлений

    Разрешение дисплея: 6½ разряда

    Дисплей: вакуумно-флюорисцентный

    Выбор диапазонов: автоматический или ручной

    Максимальное напряжение на входе 250 В пик

    Аналоговый выход: 2 В на полной шкале и выход предусилителя с возможностью записи на ленточный самописец

    Скорость считывания: 1200 измер./сек (во внутренний буфер), 500 измер./сек (в IEEE-488)

    Память: 2500 значений

    Китай

     

    07.04.2014

    07.04.2014

    7

    нет

    224436 руб.

    Читанов Денис Николаевич, 84959550160

    Калибровка перед каждым измерением

     

    Магнитометр ATE-8702

    К-428А

    Технологическое

    Предназначен для измерения параметров магнитных полей в промышленности, материаловедении, электротехнике, а также в лабораторных исследованиях. Прибор позволяет проводить измерения постоянных и переменных магнитных полей.

    Дипазоны измерения:

    DC (постоянное поле) - 300.00 мТл – 3000.0 мТл,

    3000.0 Гс – 30000 Гс;

    АС (переменное поле)

    150.00 мТл – 1500.0 мТл

    1500.0 Гс – 15000 Гс

    Тайвань

     

    15.09.2015

    15.09.2015

    7

    нет

    18998 руб.

    Комлев А.С, 84959550160

    нет

     

    Весы электронные AHR-250AZG

    К-428А

    Аналитическое

    Предназначены для статических измерений массы различных веществ и материалов.

    Диапазон измерения: 0,0001 г – 252 г.

    Корея

     

    16.09.2015

    16.09.2015

    7

    нет

    -

    Комлев А.С, 84959550160

    Калибровка перед каждым измерением

     

    Сканирующий спетрофотометр УФ- и видимого диапазона Evolution 300-PS

    К-429

    Аналитическое

    Измерение оптических характеристик пленочных структур и растворов полимеров, изучение и контроль физико-химического состава нанокомпозитов

    Спектральный диапазон 1100-190 нм,

    полупроводниковые кремниевыедетекторы, чувствительные в диапазоне длин волн менее 900 нм. Источник излучения - импульсная ксеноновая лампа. Комплектуется программным продуктом для обработки и расчетов спектров поглощения.

    Thermo Scientific, США

     

    07.2013

    10.10.2013

    7

    нет

    -

    Кожитов Лев Васильевич

    84952368133

    Осуществляется самокалибровка. 1 раз в 2 месяца

     

    Спектрометр месбауэровский МС-1104Ем

    К-430

    Аналитическое

    Изучение состава, магнитной и кристаллической структуры, свойств ферритов и наноматериалов

    2 канала измерения,

    температура измерения 90-315К

    величина эффекта γ- поглощения не менее 20 %,

    диапазон скоростей источника γ-излучения Со57 0-12 мм/с,

    НИИ физики ФГАОУ ВПО «ЮФУ», Россия

     

    21.05.2014

    01.12.2014

    7

    да

    819400 руб.

    Коровушкин Владимир Васильевич 84959512382

    Калибровка 1 раз в месяц

     

    NT-MDT NTEGRA Prima, универсальный комплекс сканирующей зондовой микроскопии

     

    К-430

     

    Аналитическое

     

    Прибор используется для получения изображения поверхности образца и его характеристик.

     

    Сканирование образцом. Размер образца: диаметр до 40 мм, высота до 15 мм. Вес образца до 100 г. XY диапазон позиционирования 5x5 мм. Разрешение позиционирования 5 мкм. Диапазон сканирования 90x90x9 мкм. Нелинейность, XY с датчиками обратной связи ≤ 0,1 %. Ошибка измерения линейных размеров (с датчиками) ±0,5 %.

     

    Фирма НТ-МДТ, Россия

     

     

    19.11.2014

     

    25.04.2015

    7

     

    нет

    5673600 руб.

    Тимофеев Андрей Владимирович, 84959550160

    Калибровка 1 раз в полгода

     

    Установка магнитоизмерительная МК-3Э

    К-430

    Аналитическое

     

    Автоматические измерения магнитных характеристик кольцевых образцов магнитомягких материалов

    Размеры кольцевых образцов: внутренний диаметр от 4 мм до 80 мм, наружный диаметр от 6 мм до 100 мм, высота от 4 мм до 20 мм. Материал образцов – магнитомягкие сплавы и электротехнические стали.

    Измеряемые характеристики кольцевых образцов:

    • Магнитная петля гистерезиса В(Н) по точкам, Тл, А/м;

    • Основная кривая намагничивания В(Н) по точкам, Тл, А/м;

    • Остаточная индукция Вr, Тл;

    • Коэрцитивная сила по индукции НсВ, А/м;

    • Максимальная магнитная проницаемость μm;

    • Магнитная проницаемость μе в заданном поле;

    • Начальная магнитная проницаемость μн;

    • Индукция в заданном поле ВН, Тл.

    ЗАО «НПО «Интротест», Россия

     

    22.12.2014

    01.04.2015

    7

    нет

    531000 руб.

    Комлев Александр Сергеевич, 84959550160

    Калибровка 1 раз в год

     

    Установка термогравиметрического анализа

    Discovery TGTM

    К-434

    Аналитическое

    Анализ кинетики процесса

    Точность – 10-7 г;

    ИК-нагрев до 9000С

    США

     

    2012

    2012

    7

    да

    -

    Козлов Владимир Валентинович, 84956384543

    Калибровка каждые 2 месяца

     

    Установка дифференциальной сканирующей калориметрии DSC Q20

    К-434

    Аналитическое

    Анализ термохимических параметров процесса

    Нагрев до 5000С;

    Продувочный газ – N2

    США

     

    2012

    2012

    7

    нет

    -

    Козлов Владимир Валентинович,

    8495638454343

    Калибровка каждые 2 месяца

     

    Установка измерения ЭМ поглощения СВЧ №5

    К-434

    Аналитическое

    Измерение ЭМ поглощения

    Диапазон частот от 8-12 ГГц

    Россия

     

    2014

    2014

    7

    нет

    -

    Козлов Владимир Валентинович,

    84956384543

    Калибровка 1 раз в год

     

    Весы AF-R220CE

    К-434

    Аналитическое

    Взвешивание образцов

    Точность измерения до 10-4 г

    Япония

     

    2012

    2012

    5

    нет

    55000 руб.

    Козлов Владимир Валентинович,

    84956384543

    Калибровка 1 раз в полгода

     

    Петлемер индукционный MicroWire B-H Meter

    К-435

    Аналитическое

    Измерение магнитного гистерезиса. Измерение поперечного сечения микропроводов.

    Частота 200-500 Гц. Амплитуда поля 1000 А/м.

    Россия

     

    2015

    01.04.2015

    5

    нет

    11217,19 руб.

    Панина Лариса Владимировна, 84956384451

    -

     

    Векторный анализатор цепей Hewlett Packard Network Analyzer 8753E

    К-435

    Аналитическое

    Измерение S-параметра и передаточных функций микрополосковых элементов, цепей, антенн и т.п.

    Рабочий диапазон измерений 30 кГц – 6 ГГц

    Малайзия

     

    2014

    2015

    7

    да

    -

    Панина Лариса Владимировна, 84956384451

    -

     

    Спектральный эллипсометрический комплекс «Эллипс-1891»

    К-436

    Аналитическое

    Предназначен для проведения прецизионных измерений толщин многослойных тонкопленочных структур с субмикронным разрешением, а также исследования спектральных оптических постоянных и структурных свойств материалов с высоким быстродействием в широком спектральном диапазоне

    Спектральный диапазон 350-1000 нм. Спектральное разрешение 2,5 нм. Точность измерения показателя преломления 0,005. Точность измерения толщины 0,3 нм. Диаметр светового пятна на образце 3 мм. Диапазон измеряемых толщин до 25000 нм. Толщина измеряемых образцов от 0,5 до 10 мм. Диапазон углов падения света: 450, 500, 550, 600, 650, 700, 900

    НПК «Центр нанотехнологий», Россия

     

    2013

    15.08.2013

    7

    нет

    1300000 руб.

    Морченко Александр Тимофеевич, 84956384451

    Калибровка 1 раз в 0,5 года

Список кандидатских и докторских диссертаций, защищенных  аспирантами и соискателями  кафедры  ТМЭ  в 2011-2016 г.г.


 

 

 

 
 
Фамилия, И.О. Тема Степень Год защиты Примечание
1 Рябинин Д.Г. Получение термоэлектрических ветвей на основе твердых растворов Sb2Te3 - Bi2Te3 для термостойких охлаждающих модулей со стабильными характеристиками К.т.н. 2011 Аспирант
2
Фарафонов С.Б.
Химико-механическое полирование монокристаллов ZnO, NiSb, Cu и цилиндрических подложек кремния К.т.н. 2011 Аспирант
3 Тимошина М.И. Влияние термообработки и легирования на свойства монокристаллического кремния К.т.н. 2011 Соискатель
4 Костикова А.В. 
Разработка основ технологии получения нанокомпозита FeNi3/C на основе полиакрилонитрила, FeCl3·6H2O и NiCl2·6H2O под действием ИК нагрева
К.т.н.
2013

5 Курочка А.С.
Особенности электронной эмиссии для контроля процесса реактивного ионно-лучевого травления пленочных гетерокомпозиций
К.т.н.
2013
6 Нуриев А.В. Разработка основ технологии получения магнитного полимерного нанокомпозита «магнетит в матрице поливинилового спирта»
К.т.н.
2013
7 Читанов Д.Н.
Нестехиометрия и дефекты структуры в монокристаллах и пленках ферритов-гранатов, легированных ионами Са2+
К.ф.-м.н.
2013
8 Морченко А.Т. Радиопоглощающие свойства ферритов и магнитодиэлектрических композитов на их основе
К.ф.-м.н.
2014
9




10

  

11




12



13




14




Сведения о специальностях Совета по защитам, защитившихся аспирантах и докторантах - Сведения

ЦЕНТР Материаловедения ферритов

Центр материаловедения ферритов образован при кафедре технологии материалов электроники в 2004 году как некоммерческое научно-техническое объединение предприятий и научных учреждений, связанных с производством материалов и элементов магнитоэлектроники. В состав центра вошли ведущие заводы и институты подотрасли: 
  • ОАО «Домен»;
  • ООО «Мета-феррит»(г.Кузнецк);
  • ОАО «Алгоритм»(г. Рыбинск);
  • НПО «Магнетон»(г.Владимир).
Целями Центра были определены: 
  • координация научно-исследовательской деятельности;
  • обобщение технологического опыта в производстве магнитных керамик;
  • подготовка и повышение квалификации инженерно-технического персонала, занятого на основных этапах технологического процесса.
Сотрудники Центра и телефоны для связи:

Д.т.н., доцент Андреев Валерий Георгиевич +7 (841) 577-05-23
К.ф-м.н, профессор  Костишин Владимир Григорьевич (495) 638-44-51
К.т.н., профессор Крутогин Дмитрий Григорьевич (495) 638-46-08

Значительная роль в организации работы Центра с момента его образования принадлежала профессору д.т.н. Летюку Л.М., безвременно ушедшему из жизни в 2007 году. Его ученики и сотрудники продолжают работу Центра по основным сформировавшимся направлениям:

Исследование реологических свойств оксидных и ферритовых шихтовых масс как фактора управления процессом структурообразования и снижения материальных затрат на производство;
  • Модификация составов магнитожестких бариевых и стронциевых ферритов с целью управления их структурочувствительными магнитными параметрами;
  • Анализ зарядового состояния точечных дефектов в эпитаксиальных феррогранатовых структурах и пути воздействия на электрические и магнитные свойства ГРЭС