Тел: (495) 236-03-04, (495) 769-49-56, (985) 769-49-56
E-mail:lisak@bk.ru
Аудитория: Б-707А, К-410
Дата рождения:   21.04.1972 г.
Занимаемая должность: Доцент. Куратор групп МПП, КФ. Профорг кафедры.
Образование: высшее
Окончила: Московский государственный институт стали и сплавов (технологический университет)
Год окончания: 1995 г.
Специальность и квалификация: “Физика и технология материалов и компонентов электронной техники”, инженер электронной техники.
Ученая степень, звание: кандидат физико-математических наук

1. Область научных интересов.

Рентгенодифракционные и спектроскопические методы анализа.

2. Учебные курсы, читаемые в университете (название курса, аннотация).

1) Спектроскопические методы анализа. Спектроскопические методы исследования материалов. (Аннотация: Специальный курсы. Основы, возможности, чувствительности, применение современных спектроскопических методов анализа материалов, микро- и наноструктур. Исследование элементного, химического состава, атомной структуры, распределения поверхностных уровней, структурного совершенства поверхностей и приповерхностных слоев твердых тел. Планирование, организация и проведение спектроскопических исследований, обработка и анализ получаемую информации.)
2) Атомная и электронная структура поверхности и межфазных границ. (Аннотация: Специальный курс. Особенности, взаимосвязь атомной и электронной структуры поверхности полупроводников, анализ и моделирование процессов на поверхности и в приповерхностных слоях ковалентных и ионно-ковалентных кристаллов. Прикладные методы анализа и расчета поверхностных структур.)
3)  Маркетинг и менеджмент в области новых материалов. (Аннотация: Специальный курс. Основы маркетинга и менеджмента. Изучение комплексного научно-практического подхода к проблемам маркетинга и менеджмента в отечественных наукоемких отраслях на рынке новых технологий, в электронной промышленности,  наноиндустрии, сфере образования.)
4) Методы исследования материалов и структур электроники. (Аннотация: Базовый курс. Прикладные методы рентгеноструктурного анализа материалов и объектов микро- и нанотехники. Основы электронографии и нейтронографии. Основы теории просвечивающей, сканирующей микроскопии.)

4. Основная учебная литература, автором или соавтором которой является преподаватель

1) Ю.Н. Пархоменко, Е.А. Комарницкая, Д.А. Подгорный  Спектроскопические методы исследования. Раздел «Дифракция электронов низких энергий». Курс лекций. –М.: МИСиС, 2007. -60 с.
2) Ю.Н. Пархоменко, Е.А. Комарницкая, Д.А. Подгорный  Спектроскопические методы исследования. Лабораторный практикум. Часть 1. –М.: МИСиС, 2007. -69 с.
3) Ю.Н. Пархоменко, Е.А. Комарницкая Программа учебной подготовки бакалавров по направлению 150600 «Спектроскопические методы анализа» –М.: МИСиС, 2007.-13 c.
4) Ю.Н. Пархоменко, Е.А. Комарницкая Программа учебной подготовки бакалавров по направлению 150600 «Атомная и электронная структура поверхности» –М.: МИСиС, 2007.-10 c.
5) Ю.Н. Пархоменко, Е.А. Комарницкая, Д.А. Подгорный Программа учебной подготовки магистров по направлению 210600 «Спектроскопические и зондовые методы для исследования и анализа наноматериалов» –М.: МИСиС, 2008.-17 c.
6) Ю.Н. Пархоменко, Е.А. Комарницкая Программа учебной подготовки специалистов по специальности 150701 «Спектроскопические методы анализа» –М.: МИСиС, 2006.-12 c.

8. Сведения о повышении квалификации за последние 5 лет.

1) Подготовка экспертов-аудиторов по оценке систем качества образовательных учреждений. МИСиС, 20 ч., 2009 г.
2) Повышение квалификации по английскому языку по направлению «Уровень А1». МИСиС, 72 ч., 2010 г.

9. Темы НИР и дипломных, квалификационных выпускных работ бакалавров и диссертаций магистров за последние 3 года.

1) Выбор методик спектроскопических исследований материалов на основе ионноимплантированных соединений AIIIBV для различных условий эксперимента. (КНИР)
2) Изучение возможностей применения метода ИК-Фурье спектроскопии для исследования Al2O3, легированного Be. (КНИР)