На приборах возможна работа со следующими рентгенодифракционными методами:

  • дифракция высокого разрешения для исследования гетероэпитаксиальных структур;
  • трехкристальная рентгеновская дифрактометрия для исследования гетероэпитаксиальных структур, кластеров точечных дефектов в объемных кристаллах;
  • рентгеновская топография для получения изображения дефектов структуры;
  • рентгеновская рефлектометрия для определения состава слоев и гладкости межслойных границ;
  • рентгеновская дифракция в низком разрешении (количественный и качественный фазовый анализ порошков, построение полюсных фигур для анализа текстуры поликристаллов и поликристаллических пленок).