JEM-2100 - аналитический электронный микроскоп, включающий в себя базовый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм, систему компьютерного управления, в которую интегрировано устройство наблюдения изображения в режиме просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ), энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (JED-2300).

  • Высокая стабильность пучка: Высокая стабильность высокого напряжения и тока пучка, вместе с превосходной электронно-оптической системой, позволяет получать разрешение 0,19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом).
  • Новая конструкция шасси колонны: Новая конструкция шасси колонны существенно снижает влияние вибраций на прибор.
  • Аналитический электронный микроскоп: В энергодисперсионной системе микроанализа применен новый детектор, сконструированный для работы при телесном угле сбора  0,28 стерад и угле сбора  24.1°, что позволяет производить высоко точный анализ и быстрый набор данных микроанализа.
  • Столик образцов. Столик образцов (гониометрический) дает возможность осуществлять точное перемещение образца в нанометровой шкале.