Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда

Сошников Александр Игоревич

Специальность:

Дата и время защиты:

20.05.2011 07:52

Место защиты:

НИТУ МИСИС

Научный руководитель: доктор физико-математических наук,

профессор «НИТУ МИСИС Бланк Владимир Давыдович

Работа выполнена на кафедре материаловедения полупроводников и диэлектриков НИТУ МИСИС

Официальные оппоненты:

доктор физико—математических наук, профессор Мордкович Виктор Наумович

доктор физико—математических наук, профессор Яминский Игорь Владимирович

Ведущая организация:

Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научно -

исследовательский институт метрологической службы»

Защита диссертации состоится «30» июня 2011 г. в 11 часов в аудитории К-421 на заседании Диссертационного совета Д 212.132.06 в НИТУ МИСИС по адресу: 119049, г. Москва, Крымский вал, д.3, ауд. К-421.

Материалы:

Текст автореферата диссертации20.05.2011