Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда
Сошников Александр Игоревич
Специальность:
Дата и время защиты:
20.05.2011 07:52
Место защиты:
НИТУ МИСИС
Научный руководитель: доктор физико-математических наук,
профессор «НИТУ МИСИС Бланк Владимир Давыдович
Работа выполнена на кафедре материаловедения полупроводников и диэлектриков НИТУ МИСИС
Официальные оппоненты:
доктор физико—математических наук, профессор Мордкович Виктор Наумович
доктор физико—математических наук, профессор Яминский Игорь Владимирович
Ведущая организация:
Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научно -
исследовательский институт метрологической службы»
Защита диссертации состоится «30» июня 2011 г. в 11 часов в аудитории К-421 на заседании Диссертационного совета Д 212.132.06 в НИТУ МИСИС по адресу: 119049, г. Москва, Крымский вал, д.3, ауд. К-421.
Материалы:
Текст автореферата диссертации20.05.2011
Диссертации по специальности
«»:
