Ключевая информация о лаборатории

Межкафедральная учебно-испытательная лаборатория (МКЛ) «Полупроводниковых материалов и диэлектриков» была создана в рамках выполнения инновационной образовательной программы «Качество. Знание. Компетентность» на базе учебно-испытательной лаборатории «Монокристаллы и заготовки на их основе» (ИЛМЗ) в 2001 году.

С 2001 года ИЛМЗ была аккредитована в Органе по аккредитации ААЦ «Аналитика», являющейся полноправным членом и участником Соглашения о взаимном признании ILAC и APLAC (Аттестат № ААС.А.00038) и успешно проходит ежегодные инспекционные контроли и регулярные переаккредитации каждые пять лет. Последняя успешно пройдена в феврале 2020 г., срок действия аттестата аккредитации — до 25 февраля 2025 г.

В 2012 году Ассоциация «Аналитика» номинировала ИЛМЗ на премию лучшей лаборатории года «Серебряный моль» с вручением СВИДЕТЕЛЬСТВА номинанта лучшей лаборатории года на Ежегодном собрании Ассоциации «Аналитика».

ИЛМЗ проводит испытания с использованием аттестованных методик выполнения измерений (МВИ), поверенного оборудования и разработанных в лаборатории стандартных образцов предприятия (СОП).

Результаты испытаний Заказчикам выдаются в виде Отчетов об испытаниях, заверенных печатью лаборатории, с приложением комплекта Протоколов измерений по каждому из видов измерений.

Направления деятельности лаборатории
  1. Проведение испытательных работ.
  2. Обеспечение процессов измерения с полной метрологической проработкой методик выполнения измерений, включая разработку новых МВИ и актуализацию ранее аттестованных МВИ.
  3. Разработка СОП и государственных стандартных образцов (ГСО).
  4. Разработка нормативно-технической документации, регламентирующей проведение испытательных работ и получения достоверной информации о параметрах и свойствах испытуемых объектов.
  5. Выполнение научно-исследовательских работ по следующим направлениям: фундаментальные проблемы в области материаловедения и дефектообразования в диэлектрических и полупроводниковых материалах; актуальные практические задачи, связанные с получением и послеростовыми обработками диэлектрических и полупроводниковых материалов; применение диэлектрических материалов в качестве элементов управления лазерным лучом, фильтров на поверхностных и объемных акустических волнах, детекторов частиц больших энергий, датчиков различных физических величин, высокотемпературных пьезодатчиков; слоистые структуры.
Основными объектами испытаний в соответствии с областью аккредитации являются:
  • оптические материалы для активных лазерных элементов, элементов для генерации и преобразования лазерного излучения и проходной оптики, сцинтилляционные элементы;
  • акустооптические материалы;
  • порошковые материалы;
  • электрооптические материалы и заготовки из этих материалов;
  • заготовки для изделий микро- и наноэлектроники;
  • слоистые структуры.

ИЛМЗ является первой, независимой от производителей и потребителей вышеописываемой продукции «третьей стороной» и пока остается единственной в России лабораторией с подобной областью аккредитации.